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人工晶狀體光學分析儀

更新時間│▩:2022-07-14
產品型號│▩:TR0815
廠商性質│▩:生產廠家
描述│▩:TR0815人工晶狀體光學分析儀採用Phase-Shifting Schlieren測量原理▩│↟☁,可測量任意一款折射型人工晶狀體◕╃▩▩✘。
詳情介紹

人工晶狀體光學分析儀的功能要求

1.1採用Phase-Shifting Schlieren測量原理

1.2適合單焦·☁•、環曲面·☁•、多焦·☁•、多焦環曲面人工晶狀體

1.3自動識別環曲面人工晶狀體的標記

1.4高畫質晰光焦度分佈圖

1.5動態測量範圍-100D~+100D

1.6方便應用於自動化生產線

1.7一次性校準

1.8全自動環曲面人工晶體測定

1.9適用於乾溼檢測環境

2.0可*自定義程式


人工晶狀體光學分析儀的硬體規格│▩:

2.1檢測原理│▩:Phase-Shifting Schlieren測量原理

2.2檢測區域│▩:8x8mm2

2.3通光孔徑│▩:最大直徑為8mm

2.4光線波長546nm

2.5測量速度│▩:4至10秒▩│↟☁,具體速度取決於檢測的區域大小以及檢測的型別

2.6光焦度測量範圍│▩:70D(8mm孔徑下)·☁•、100D(5mm孔徑下)

2.7測量精度│▩:0.001D

2.8可重複性│▩:優於0.005D

2.9可重複性方差│▩:0.01D(ISO5725標準)

3.0外形尺寸│▩:170x220x590(mm)




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