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人工晶狀體測量儀

更新時間₪◕·☁:2022-07-14
產品型號₪◕·☁:Multilens
廠商性質₪◕·☁:生產廠家
描述₪◕·☁:Multilens人工晶狀體測量儀
詳情介紹

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Multilens人工晶狀體測量儀功能要求₪◕·☁:

1.1採用Phase-Shifting Schlieren測量原理

1.2自動識別環曲面人工晶狀體的標記

1.3高畫質晰光焦度分佈圖

1.4全自動環曲面人工晶體測定

1.5適用於乾溼檢測環境

1.6可*自定義程式

1.7適合單焦·✘╃、環曲面·✘╃、多焦·✘╃、多焦環曲面人工晶狀體

1.8 動態測量範圍-100D~+100D

1.9方便應用於自動化生產線

2.0一次性校準

Multilens人工晶狀體測量儀硬體規格₪◕·☁:

2.1檢測區域₪◕·☁:8x8mm2

2.2通光孔徑₪◕·☁:最大直徑為8mm

2.3光線波長546nm

2.4測量速度₪◕·☁:410秒│↟,具體速度取決於檢測的區域大小以及檢測的型別

2.5光焦度測量範圍₪◕·☁:70D8mm孔徑下)·✘╃、100D5mm孔徑下)

2.6測量精度₪◕·☁:0.001D

2.7可重複性₪◕·☁:優於0.005D

2.8可重複性方差₪◕·☁:0.01DISO5725標準)

2.9外形尺寸₪◕·☁:170x220x590mm

2.10一次可測量十片人工晶狀體




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上一條₪◕·☁:WYV-S眼鏡折射率檢測儀
下一條₪◕·☁:C-NIMO人工晶狀體測量儀


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